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Relationship between Impaired Glucose Tolerance Test and Insulin Resistance During Pregnancy

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Author:
No author available
Journal Title:
CHINESE JOURNAL OF PERINATAL MEDICINE
Issue:
4
DOI:
10.3760/cma.j.issn.1007-9408.2002.04.002
Key Word:
葡糖耐受不良;胰岛素抗药性;葡糖耐量试验

Abstract´╝Ü 目的探讨妊娠期葡萄糖耐量受损(impaired glucose tolerance test,IGT)与胰岛素抵抗之间的关系.方法选取1999年5月至1999年8月在上海市11家医院产前检查,且葡萄糖耐量试验四项结果中有一项异常的孕妇93例,随机选取无糖耐量受损的孕妇179例,同时进行胰岛素释放试验,并计算胰岛素敏感性指数及胰岛分泌功能指数,比较两组胰岛素敏感性指数(ISI)、胰岛分泌功能指数(IFI)、空腹血糖(PGO)、空腹胰岛素水平(INO)、血糖曲线下面积(SAUC)及胰岛素曲线下面积(IAUC)的差异.结果葡萄糖耐量受损的IGT组与正常组PGO、IS0、SAUC、IAUC、及ISI分别为(5.1±1.0)mmol/L和(4.3±0.4)mmol/L、(142±77)pmol/L和(114±40)pmol/L、(23±4)mmol/L和(18±3)mmol/L、(1186±437)pmol/L和(1058±407)pmol/L、及30±20和22±24,两者比较差异均有显著性(P<0.05).而IGT组与正常组IFI分别为28±14和26±9,两组比较差异无显著性(P>0.05).结论胰岛素抵抗是IGT的病因之一.

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