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Effects of N2O on spontaneous neural discharge of central amygdaloid nucleus in rats

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Author:
No author available
Journal Title:
JOURNAL OF THE FOURTH MILITARY MEDICAL UNIVERSITY
Issue:
4
DOI:
10.3321/j.issn:1000-2790.2002.04.005
Key Word:
氧化亚氮;杏仁核;膜片钳术;脑薄片;大鼠

Abstract: 目的研究吸入麻醉剂笑气(N2O)对大鼠杏仁中央核(Ce)神经元自发放电活动的影响. 方法应用膜片钳全细胞记录技术在新生SD大鼠脑薄片上观察了吸入麻醉剂笑气对Ce自发放电频率的影响. 将新生SD大鼠迅速断头取全脑,把脑置于通入950 mL*L-1 O2和50 mL*L-1 CO2混合气体的4℃人工脑脊液(ACSF)中,再用振动切片机制成300~400 μm含Ce的脑薄片,然后用膜片钳全细胞记录技术分别观察不同浓度的笑气对Ce神经元自发放电频率的影响. 结果 30 mL*L-1的笑气对Ce神经元似有增加放电频率的作用,但无统计学差异. 500 mL*L-1和700 mL*L-1的笑气可产生明显的抑制作用(P<0.05),冲洗5 min后均能使放电频率逐渐恢复到给药前水平. 结论笑气对大鼠Ce内的神经元自发放电活动可产生明显可逆性的抑制作用,表明Ce是笑气在中枢神经系统的重要作用部位.

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